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In Intels internen Tests haben eine kleine Anzahl (einstellige Prozentzahl) von Chipsätzen in Langzeit-Belastungstests über drei Jahre Probleme gezeigt.
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Ist das getestet wie MTBF, also 52 Platten x 1 Woche = 1 Platte x 1 Jahr? Die drei Jahre machen mich stutzig, dass dort ne beschönigende Interpretation der empirischen Daten stattfindet - auch wenn ichs nicht unterstellen will.